著錄信息
- 專利名稱：一種彎折線偶極子RFID標(biāo)簽天線優(yōu)化設(shè)計方法
- 專利類型：發(fā)明
- 申請?zhí)枺?/em>CN201210302173.X
- 公開(公告)號：CN102831314B
- 申請日：20120823
- 公開(公告)日：20150527
- 申請人：鴻博股份有限公司
- 發(fā)明人：葉金山,何愛平,阮文良
- 申請人地址：350007 福建省福州市倉山區(qū)金山開發(fā)區(qū)金達(dá)路136號
- 申請人區(qū)域代碼：CN350104
- 專利權(quán)人：鴻博股份有限公司
- 洛迦諾分類：無
- IPC：G06F19/00
- 優(yōu)先權(quán)：無
- 專利代理機(jī)構(gòu)：福州元創(chuàng)專利商標(biāo)代理有限公司 35100
- 代理人：蔡學(xué)俊
- 審查員：杜錦錦
- 國際申請：無
- 國際公開(公告)：無
- 進(jìn)入國家日期：無
- 分案申請：無
關(guān)鍵詞
彎折,天線,折線,目標(biāo)函數(shù),天線形狀,算法,目標(biāo)函數(shù)的梯度,參數(shù)進(jìn)行,尺寸參數(shù),匹配程度,全局優(yōu)化,人工經(jīng)驗(yàn),設(shè)計方法,隨機(jī)搜索,天線結(jié)構(gòu),天線性能,天線優(yōu)化,性能優(yōu)劣,理想值,阻抗,確定性,評判,優(yōu)化
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