著錄信息
- 專利名稱：回波檢測
- 專利類型：發明
- 申請號：CN200980106529.9
- 公開(公告)號：CN101978606B
- 申請日：20090226
- 公開(公告)日：20131009
- 申請人：半導體配件工業有限公司
- 發明人：伊萬·蔻達
- 申請人地址：美國亞利桑那州
- 申請人區域代碼：US
- 專利權人：半導體配件工業有限公司
- 洛迦諾分類：無
- IPC：H04B1/06
- 優先權：US12/037,838 20080226
- 專利代理機構：北京東方億思知識產權代理有限責任公司 11258
- 代理人：李曉冬;南霆
- 審查員：王鋒
- 國際申請：PCT/US2009/035300 20090226
- 國際公開(公告)：WO2009/108786 20090903
- 進入國家日期：20100826
- 分案申請：無
關鍵詞
回波,檢測器,低通濾波器,參考正弦,檢測電路,截止頻率,數字混頻,余弦信號,聲信號,檢測,核實
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