主板診斷卡代碼大全及處理方法

FF、00、C0、D0、CF、F1或什么也沒有表示CPU沒通過

C1、C6、C3、D3、D4、D6、D8、B0、A7、E1表示內(nèi)存不過

24、25、26、01、0A、0B、2A、2B、31表示顯卡不過

某些集成顯卡主板23、24、25表示可以正常點(diǎn)亮，某些VIA芯片組顯示13則表示可以點(diǎn)亮，某些品牌機(jī)里的主板顯示0B則表示正常，某些主板顯示4E表示正常點(diǎn)亮，某些INTEL芯片組的主板顯示26或16則表示可以正常點(diǎn)亮。C1、C6、C3、01、02這個組合循環(huán)跳變大部分是I/0壞或刷BIOS。

如顯示05、ED、41則直接刷BIOS 00 。已顯示系統(tǒng)的配置；即將控制INI19引導(dǎo)裝入。

1、處理器測試1，處理器狀態(tài)核實(shí)，如果測試失敗，循環(huán)是無限的。 處理器寄存器的測試即將開始，不可屏蔽中斷即將停用。 CPU寄存器測試正在進(jìn)行或者失敗。

2、確定診斷的類型（正常或者制造）。如果鍵盤緩沖器含有數(shù)據(jù)就會失效。 停用不可屏蔽中斷；通過延遲開始。 CMOS寫入／讀出正在進(jìn)行或者失靈。

3、清除8042鍵盤控制器，發(fā)出TESTKBRD命令（AAH） 通電延遲已完成。 ROM BIOS檢查部件正在進(jìn)行或失靈。

4、使8042鍵盤控制器復(fù)位，核實(shí)TESTKBRD。 鍵盤控制器軟復(fù)位／通電測試。 可編程間隔計(jì)時器的測試正在進(jìn)行或失靈。

5、如果不斷重復(fù)制造測試1至5，可獲得8042控制狀態(tài)。 已確定軟復(fù)位／通電；即將啟動ROM。 DMA初如準(zhǔn)備正在進(jìn)行或者失靈。

6、使電路片作初始準(zhǔn)備，停用視頻、奇偶性、DMA電路片，以及清除DMA電路片，所有頁面寄存器和CMOS停機(jī)字節(jié)。 已啟動ROM計(jì)算ROM BIOS檢查總和，以及檢查鍵盤緩沖器是否清除。 DMA初始頁面寄存器讀／寫測試正在進(jìn)行或失靈。

7、處理器測試2，核實(shí)CPU寄存器的工作。 ROM BIOS檢查總和正常，鍵盤緩沖器已清除，向鍵盤發(fā)出BAT（基本保證測試）命令。

8、使CMOS計(jì)時器作初始準(zhǔn)備，正常的更新計(jì)時器的循環(huán)。 已向鍵盤發(fā)出BAT命令，即將寫入BAT命令。 RAM更新檢驗(yàn)正在進(jìn)行或失靈。

9、EPROM檢查總和且必須等于零才通過。 核實(shí)鍵盤的基本保證測試，接著核實(shí)鍵盤命令字節(jié)。 第一個64K RAM測試正在進(jìn)行。

0A 使視頻接口作初始準(zhǔn)備。 發(fā)出鍵盤命令字節(jié)代碼，即將寫入命令字節(jié)數(shù)據(jù)。 第一個64K RAM芯片或數(shù)據(jù)線失靈，移位。

0B 測試8254通道0。 寫入鍵盤控制器命令字節(jié)，即將發(fā)出引腳23和24的封鎖／解鎖命令。 第一個64K RAM奇／偶邏輯失靈。

0C 測試8254通道1。 鍵盤控制器引腳23、24已封鎖／解鎖；已發(fā)出NOP命令。 第一個64K RAN的地址線故障。

0D：

1）檢查CPU速度是否與系統(tǒng)時鐘相匹配。

2）檢查控制芯片已編程值是否符合初設(shè)置。

3）視頻通道測試，如果失敗，則鳴喇叭。 已處理NOP命令；接著測試CMOS停開寄存器。 第一個64K RAM的奇偶性失靈。

0E 測試CMOS停機(jī)字節(jié)。 CMOS停開寄存器讀／寫測試；將計(jì)算CMOS檢查總和。 初始化輸入／輸出端口地址。

0F 測試擴(kuò)展的CMOS。 已計(jì)算CMOS檢查總和寫入診斷字節(jié)；CMOS開始初始準(zhǔn)備。

10、測試DMA通道0。 CMOS已作初始準(zhǔn)備，CMOS狀態(tài)寄存器即將為日期和時間作初始準(zhǔn)備。 第一個64K RAM第0位故障。

11、測試DMA通道1。 CMOS狀態(tài)寄存器已作初始準(zhǔn)備，即將停用DMA和中斷控制器。 第一個64DK RAM第1位故障。

12、測試DMA頁面寄存器。 停用DMA控制器1以及中斷控制器1和2；即將視頻顯示器并使端口B作初始準(zhǔn)備。 第一個64DK RAM第2位故障。

13、測試8741鍵盤控制器接口。 視頻顯示器已停用，端口B已作初始準(zhǔn)備；即將開始電路片初始化／存儲器自動檢測。 第一個64DK RAM第3位故障。

14、測試存儲器更新觸發(fā)電路。 電路片初始化／存儲器處自動檢測結(jié)束；8254計(jì)時器測試即將開始。 第一個64DK RAM第4位故障。

15、測試開頭64K的系統(tǒng)存儲器。 第2通道計(jì)時器測試了一半；8254第2通道計(jì)時器即將完成測試。 第一個64DK RAM第5位故障。

16、建立8259所用的中斷矢量表。 第2通道計(jì)時器測試結(jié)束；8254第1通道計(jì)時器即將完成測試。 第一個64DK RAM第6位故障。

17、調(diào)準(zhǔn)視頻輸入／輸出工作，若裝有視頻BIOS則啟用。 第1通道計(jì)時器測試結(jié)束；8254第0通道計(jì)時器即將完成測試。 第一個64DK RAM第7位故障。

18、測試視頻存儲器，如果安裝選用的視頻BIOS通過，由可繞過。 第0通道計(jì)時器測試結(jié)束；即將開始更新存儲器。 第一個64DK RAM第8位故障。

19、測試第1通道的中斷控制器（8259）屏蔽位。 已開始更新存儲器，接著將完成存儲器的更新。 第一個64DK RAM第9位故障。

1A 測試第2通道的中斷控制器（8259）屏蔽位。 正在觸發(fā)存儲器更新線路，即將檢查15微秒通／斷時間。 第一個64DK RAM第10位故障。

1B 測試CMOS電池電平。 完成存儲器更新時間30微秒測試；即將開始基本的64K存儲器測試。 第一個64DK RAM第11位故障。

1C 測試CMOS檢查總和。 第一個64DK RAM第12位故障。

1D 調(diào)定CMOS配置 。 第一個64DK RAM第13位故障。

1E 測定系統(tǒng)存儲器的大小，并且把它和CMOS值比較。第一個64DK RAM第14位故障。

1F 測試64K存儲器至最高640K。第一個64DK RAM第15位故障。

20、測量固定的8259中斷位。 開始基本的64K存儲器測試；即將測試地址線。 從屬DMA寄存器測試正在進(jìn)行或失靈。

21、維持不可屏蔽中斷（NMI）位（奇偶性或輸入／輸出通道的檢查）。 通過地址線測試；即將觸發(fā)奇偶性。 主DMA寄存器測試正在進(jìn)行或失靈。

22、測試8259的中斷功能。 結(jié)束觸發(fā)奇偶性；將開始串行數(shù)據(jù)讀／寫測試。 主中斷屏蔽寄存器測試正在進(jìn)行或失靈。

23、測試保護(hù)方式8086虛擬方式和8086頁面方式。 基本的64K串行數(shù)據(jù)讀／寫測試正常；即將開始中斷矢量初始化之前的任何調(diào)節(jié)。 從屬中斷屏蔽存器測試正在進(jìn)行或失靈。

24、測定1MB以上的擴(kuò)展存儲器。 矢量初始化之前的任何調(diào)節(jié)完成，即將開始中斷矢量的初始準(zhǔn)備。 設(shè)置ES段地址寄存器注冊表到內(nèi)存高端。

25、測試除頭一個64K之后的所有存儲器。 完成中斷矢量初始準(zhǔn)備；將為旋轉(zhuǎn)式斷續(xù)開始讀出8042的輸入／輸出端口。 裝入中斷矢量正在進(jìn)行或失靈。

26、測試保護(hù)方式的例外情況。 讀出8042的輸入／輸出端口；即將為旋轉(zhuǎn)式斷續(xù)開始使全局?jǐn)?shù)據(jù)作初始準(zhǔn)備。 開啟A20地址線；使之參入尋址。

27、確定超高速緩沖存儲器的控制或屏蔽RAM。 全1數(shù)據(jù)初始準(zhǔn)備結(jié)束；接著將進(jìn)行中斷矢量之后的任何初始準(zhǔn)備。 鍵盤控制器測試正在進(jìn)行或失靈。

28、確定超高速緩沖存儲器的控制或者特別的8042鍵盤控制器。 完成中斷矢量之后的初始準(zhǔn)備；即將調(diào)定單色方式。 CMOS電源故障／檢查總和計(jì)算正在進(jìn)行。

29、已調(diào)定單色方式，即將調(diào)定彩色方式。 CMOS配置有效性的檢查正在進(jìn)行。

2A 使鍵盤控制器作初始準(zhǔn)備。 已調(diào)定彩色方式，即將進(jìn)行ROM測試前的觸發(fā)奇偶性。 置空64K基本內(nèi)存。

2B 使磁碟驅(qū)動器和控制器作初始準(zhǔn)備。 觸發(fā)奇偶性結(jié)束；即將控制任選的視頻ROM檢查前所需的任何調(diào)節(jié)。 屏幕存儲器測試正在進(jìn)行或失靈。

2C 檢查串行端口，并使之作初始準(zhǔn)備。 完成視頻ROM控制之前的處理；即將查看任選的視頻ROM并加以控制。 屏幕初始準(zhǔn)備正在進(jìn)行或失靈。

2D 檢測并行端口，并使之作初始準(zhǔn)備。 已完成任選的視頻ROM控制，即將進(jìn)行視頻ROM回復(fù)控制之后任何其他處理的控制。 屏幕回掃測試正在進(jìn)行或失靈。

2E 使硬磁盤驅(qū)動器和控制器作初始準(zhǔn)備。 從視頻ROM控制之后的處理復(fù)原；如果沒有發(fā)現(xiàn)EGA／VGA就要進(jìn)行顯示器存儲器讀／寫測試。 檢測視頻ROM正在進(jìn)行。

2F 檢測數(shù)學(xué)協(xié)處理器，并使之作初始準(zhǔn)備。 沒發(fā)現(xiàn)EGA／VGA；即將開始顯示器存儲器讀／寫測試。

30、建立基本內(nèi)存和擴(kuò)展內(nèi)存。 通過顯示器存儲器讀／寫測試；即將進(jìn)行掃描檢查。 認(rèn)為屏幕是可以工作的。

31、檢測從C800：0至EFFF：0的選用ROM，并使之作初始準(zhǔn)備。 顯示器存儲器讀／寫測試或掃描檢查失敗，即將進(jìn)行另一種顯示器存儲器讀／寫測試。 單色監(jiān)視器是可以工作的。

32、對主板上COM／LTP／FDD／聲音設(shè)備等I／O芯片編程使之適合設(shè)置值。 通過另一種顯示器存儲器讀／寫測試；卻將進(jìn)行另一種顯示器掃描檢查。 彩色監(jiān)視器（40列）是可以工作的。

33、視頻顯示器檢查結(jié)束；將開始利用調(diào)節(jié)開關(guān)和實(shí)際插卡檢驗(yàn)顯示器的關(guān)型。 彩色監(jiān)視器（80列）是可以工作的。

34、已檢驗(yàn)顯示器適配器；接著將調(diào)定顯示方式。 計(jì)時器滴答聲中斷測試正在進(jìn)行或失靈。

35、完成調(diào)定顯示方式；即將檢查BIOS ROM的數(shù)據(jù)區(qū)。 停機(jī)測試正在進(jìn)行或失靈。

36、已檢查BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)；即將調(diào)定通電信息的游標(biāo)。 門電路中A－20失靈。

37、識別通電信息的游標(biāo)調(diào)定已完成；即將顯示通電信息。 保護(hù)方式中的意外中斷。

38、完成顯示通電信息；即將讀出新的游標(biāo)位置。 RAM測試正在進(jìn)行或者地址故障＞FFFFH。

39、已讀出保存游標(biāo)位置，即將顯示引用信息串。

3A 引用信息串顯示結(jié)束；即將顯示發(fā)現(xiàn)《ESC》信息。 間隔計(jì)時器通道2測試或失靈。

3B 用OPTI電路片（只是486）使輔助超高速緩沖存儲器作初始準(zhǔn)備。 已顯示發(fā)現(xiàn)＜ESC＞信息；虛擬方式，存儲器測試即將開始。 按日計(jì)算的日歷時鐘測試正在進(jìn)行或失靈。

3C 建立允許進(jìn)入CMOS設(shè)置的標(biāo)志。 。 串行端口測試正在進(jìn)行或失靈。

3D 初始化鍵盤／PS2鼠標(biāo)／PNP設(shè)備及總內(nèi)存節(jié)點(diǎn)。并行端口測試正在進(jìn)行或失靈。3E 嘗試打開L2高速緩存。數(shù)學(xué)協(xié)處理器測試正在進(jìn)行或失靈。

40、已開始準(zhǔn)備虛擬方式的測試；即將從視頻存儲器來檢驗(yàn)。 調(diào)整CPU速度，使之與外圍時鐘精確匹配。

41、中斷已打開，將初始化數(shù)據(jù)以便于0：0檢測內(nèi)存變換（中斷控制器或內(nèi)存不良） 從視頻存儲器檢驗(yàn)之后復(fù)原；即將準(zhǔn)備描述符表。 系統(tǒng)插件板選擇失靈。

42、顯示窗口進(jìn)入SETUP。 描述符表已準(zhǔn)備好；即將進(jìn)行虛擬方式作存儲器測試。 擴(kuò)展CMOS RAM故障。

43、若是即插即用BIOS，則串口、并口初始化。 進(jìn)入虛擬方式；即將為診斷方式實(shí)現(xiàn)中斷。

44、已實(shí)現(xiàn)中斷（如已接通診斷開關(guān)；即將使數(shù)據(jù)作初始準(zhǔn)備以檢查存儲器在0：0返轉(zhuǎn)。） BIOS中斷進(jìn)行初始化。

45、初始化數(shù)學(xué)協(xié)處理器。 數(shù)據(jù)已作初始準(zhǔn)備；即將檢查存儲器在0：0返轉(zhuǎn)以及找出系統(tǒng)存儲器的規(guī)模。

46、測試存儲器已返回；存儲器大小計(jì)算完畢，即將寫入頁面來測試存儲器。 檢查只讀存儲器ROM版本。

47、即將在擴(kuò)展的存儲器試寫頁面；即將基本640K存儲器寫入頁面。

48、已將基本存儲器寫入頁面；即將確定1MB以上的存儲器。 視頻檢查，CMOS重新配置。

49、找出1BM以下的存儲器并檢驗(yàn)；即將確定1MB以上的存儲器。 。

4A 找出1MB以上的存儲器并檢驗(yàn)；即將檢查BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)。進(jìn)行視頻的初始化。

4B BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)的檢驗(yàn)結(jié)束，即將檢查＜ESC＞和為軟復(fù)位清除1MB以上的存儲器。

4C 清除1MB以上的存儲器（軟復(fù)位）即將清除1MB以上的存儲器。 屏蔽視頻BIOS ROM。

4D 已清除1MB以上的存儲器（軟復(fù)位）；將保存存儲器的大小。

4E 若檢測到有錯誤；在顯示器上顯示錯誤信息，并等待客戶按＜F1＞鍵繼續(xù)。 開始存儲器的測試：（無軟復(fù)位）；即將顯示第一個64K存儲器的測試。 顯示版權(quán)信息。

4F 讀寫軟、硬盤數(shù)據(jù)，進(jìn)行DOS引導(dǎo)。 開始顯示存儲器的大小，正在測試存儲器將使之更新；將進(jìn)行串行和隨機(jī)的存儲器測試。

50、將當(dāng)前BIOS監(jiān)時區(qū)內(nèi)的CMOS值存到CMOS中。 完成1MB以下的存儲器測試；即將高速存儲器的大小以便再定位和掩蔽。 將CPU類型和速度送到屏幕。

51、測試1MB以上的存儲器。

52、所有ISA只讀存儲器ROM進(jìn)行初始化，最終給PCI分配IRQ號等初始化工作。 已完成1MB以上的存儲器測試；即將準(zhǔn)備回到實(shí)址方式。 進(jìn)入鍵盤檢測。

53、如果不是即插即用BIOS，則初始化串口、并口和設(shè)置時種值。 保存CPU寄存器和存儲器的大小，將進(jìn)入實(shí)址方式。

54、成功地開啟實(shí)址方式；即將復(fù)原準(zhǔn)備停機(jī)時保存的寄存器。 掃描“打擊鍵”。

55、寄存器已復(fù)原，將停用門電路A－20的地址線。

56、成功地停用A－20的地址線；即將檢查BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)。 鍵盤測試結(jié)束。

57、BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)檢查了一半；繼續(xù)進(jìn)行。

58、BIOS ROM的數(shù)據(jù)區(qū)檢查結(jié)束；將清除發(fā)現(xiàn)＜ESC＞信息。 非設(shè)置中斷測試。

59、已清除＜ESC＞信息；信息已顯示；即將開始DMA和中斷控制器的測試。

5A 顯示按“F2”鍵進(jìn)行設(shè)置。

5B 測試基本內(nèi)存地址。

5C 測試640K基本內(nèi)存。

60、設(shè)置硬盤引導(dǎo)扇區(qū)病毒保護(hù)功能。 通過DMA頁面寄存器的測試；即將檢驗(yàn)視頻存儲器。 測試擴(kuò)展內(nèi)存。

61、顯示系統(tǒng)配置表。 視頻存儲器檢驗(yàn)結(jié)束；即將進(jìn)行DMA＃1基本寄存器的測試。

62、開始用中斷19H進(jìn)行系統(tǒng)引導(dǎo)。 通過DMA＃1基本寄存器的測試；即將進(jìn)行DMA＃2寄存器的測試。 測試擴(kuò)展內(nèi)存地址線。

63、通過DMA＃2基本寄存器的測試；即將檢查BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)。

64、BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)檢查了一半，繼續(xù)進(jìn)行。

65、BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)檢查結(jié)束；將把DMA裝置1和2編程。

66、DMA裝置1和2編程結(jié)束；即將使用59號中斷控制器作初始準(zhǔn)備。 Cache注冊表進(jìn)行優(yōu)化配置。

67、8259初始準(zhǔn)備已結(jié)束；即將開始鍵盤測試。

68、使外部Cache和CPU內(nèi)部Cache都工作。

6A 測試并顯示外部Cache值。

6C 顯示被屏蔽內(nèi)容。

6E 顯示附屬配置信息。

69、檢測到的錯誤代碼送到屏幕顯示。

70、檢測配置有否錯誤。

71、測試實(shí)時時鐘。

72、掃查鍵盤錯誤。

7A 鎖鍵盤。

7C 設(shè)置硬件中斷矢量。

7E 測試有否安裝數(shù)學(xué)處理器。

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