著錄信息
- 專利名稱：基于AD模塊輸出的薄膜電弱點測試統計系統
- 專利類型：實用新型
- 申請號：CN201420173170.5
- 公開(公告)號：CN203798968U
- 申請日：20140410
- 公開(公告)日：20140827
- 申請人：安徽銅峰電子股份有限公司
- 發明人：錢立文
- 申請人地址：244000 安徽省銅陵市經濟技術開發區銅峰工業園
- 申請人區域代碼：CN340702
- 專利權人：安徽銅峰電子股份有限公司
- 洛迦諾分類：無
- IPC：G01R31/12
- 優先權：無
- 專利代理機構：合肥和瑞知識產權代理事務所(普通合伙) 34118
- 代理人：王挺
- 審查員：無
- 國際申請：無
- 國際公開(公告)：無
- 進入國家日期：無
- 分案申請：無
關鍵詞
輸出端,輸入端,采樣電路,輸出設備,漏電流,薄膜,連接,塑料薄膜,測試數據,導電顆粒,數字信號,雙向通訊,質量水平,線檢測,穿孔,積聚,分析
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