著錄信息
- 專利名稱：硅片檢測(cè)工具及檢測(cè)方法
- 專利類型：發(fā)明
- 申請(qǐng)?zhí)枺?/em>CN200910025195.4
- 公開(kāi)(公告)號(hào)：CN101504266B
- 申請(qǐng)日：20090223
- 公開(kāi)(公告)日：20100825
- 申請(qǐng)人：無(wú)錫尚德太陽(yáng)能電力有限公司
- 發(fā)明人：鄒春梅,龔海英
- 申請(qǐng)人地址：214028 江蘇省無(wú)錫市新區(qū)新華路12號(hào)
- 申請(qǐng)人區(qū)域代碼：CN320211
- 專利權(quán)人：無(wú)錫尚德太陽(yáng)能電力有限公司
- 洛迦諾分類：無(wú)
- IPC：G01B3/14,G01B5/02,G01B5/08,B07C5/06
- 優(yōu)先權(quán)：無(wú)
- 專利代理機(jī)構(gòu)：無(wú)錫市大為專利商標(biāo)事務(wù)所 32104
- 代理人：曹祖良
- 審查員：陳遠(yuǎn)洋
- 國(guó)際申請(qǐng)：無(wú)
- 國(guó)際公開(kāi)(公告)：無(wú)
- 進(jìn)入國(guó)家日期：無(wú)
- 分案申請(qǐng)：無(wú)
關(guān)鍵詞
硅片,檢測(cè),橫向基準(zhǔn),橫向刻度,檢測(cè)工具,太陽(yáng)電池,縱向基準(zhǔn),縱向刻度,標(biāo)準(zhǔn)尺寸,尺寸刻度,橫向?qū)挾?基體材料,晶體硅片,外形尺寸,縱向?qū)挾?組織生產(chǎn),基準(zhǔn)線,電池
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