著錄信息
- 專利名稱：IC測試組件
- 專利類型：實用新型
- 申請號：CN201621442347.2
- 公開(公告)號：CN206387878U
- 申請日：20161226
- 公開(公告)日：20170808
- 申請人：深圳市晶導電子有限公司
- 發明人：賴輝朋,熊思遠
- 申請人地址：518101 廣東省深圳市寶安區新安街道留仙二路鴻輝工業園三號廠房1-4層
- 申請人區域代碼：CN440306
- 專利權人：深圳市晶導電子有限公司
- 洛迦諾分類：無
- IPC：G01R31/28
- 優先權：無
- 專利代理機構：廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
- 代理人：生啟
- 審查員：無
- 國際申請：無
- 國際公開(公告)：無
- 進入國家日期：無
- 分案申請：無
關鍵詞
測試件,主體部,安裝件,自由端,測試,延伸,本實用新型,間隔設置,組件包括,磨損
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