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著錄信息

  • 專利名稱：一種多通道的光模塊誤碼儀的測試方法與可讀存儲介質
  • 專利類型：發明
  • 申請號：ZL202111473200.5
  • 公開(公告)號：CN 114172566 B
  • 申請日：2021-12-02
  • 公開(公告)日：2023-06-02
  • 申請人：嵇成友；陳守衛；張芳達
  • 發明人：嵇成友；陳守衛；張芳達
  • 申請人地址：深圳市寶安石巖街道石龍社區森海諾科創大廈11-12樓
  • 專利權人：深圳市源拓光電技術有限公司
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